Для-висококласних систем огляду AOI площинність — це набагато більше, ніж простий заводський показник приймання. Він служить базовим еталоном для всього набору оптичного позиціонування, отримання зображень і вимірювання розмірів. Багато виробників візуального обладнання стикаються зі складною проблемою під час складання та введення в експлуатацію: параметри площинності відповідають специфікаціям на кресленнях, але градієнтне спотворення зображення та повторний дрейф калібрування координат виникають після всієї збірки машини. Основна причина зазвичай криється не в оптичному програмному забезпеченні чи камерах, а в розриві якості базових процесів притирки. Звичайний камінь лише досягає прийнятної макроплоскості, тоді як високо-дослідження AOI вимагає безперервної-площини, мікроскопічно рівномірного нанорозмірного планарного рівня. Це головна причина, чому прецизійно натерті гранітні основи стають стандартними компонентами обладнання преміум-класу.
1. Точне притирання: відрізнити макрорівність від повної-площини мікротестів
Традиційна обробка каменю зосереджена лише на макроскопічній площинності великих поверхонь, ігноруючи незначні місцеві хвилястість і брижі. Це може бути прийнятним для загальних пристроїв огляду, але системи бачення AOI знімають зображення піксель за пікселем. Крихітні брижі на базовій поверхні перетворюються на відхилення оптичного шляху, що призводить до неоднакової точності вимірювань у різних областях у полі зору.
Підтриманий майстрами з більш ніж тридцятирічним досвідом ручної притирки та великими шліфувальними верстатами з ЧПК, чорний граніт UNPARALLELED® використовує прогресивну багатошарову точну притирку. Процес механічної обробки не просто вирівнює поверхню, а й постійно коригує мікро-топографію всієї кам’яної заготовки, щоб усунути місцеві хвилі та перепади висоти. Притирка перевіряється на окремих етапах, з переходом від грубого шліфування та напів-чистового шліфування до нанорозмірної над-точної притирки. Вся робоча поверхня основи утворює суцільну і однорідну площину відліку. Навіть для-основ великого розміру можна підтримувати постійну повну-рівність площі, щоб задовольнити -сканування широкого діапазону та зображення обладнання для огляду та запобігти прогалинам точності в різних областях перевірки.
2. Синергія сировини та процесу притирки, щоб уникнути відскоку деформації після притирки
Деякі виробники використовують камінь із невивільненою внутрішньою напругою. Навіть якщо рівність тимчасово відповідає стандартам одразу після притирки, контрольна площина поступово відскакує та деформується після розміщення або впливу підвищення температури та вібрації обладнання, що спричиняє швидке погіршення площинності. Такий відскок деформації важко швидко виявити за допомогою обладнання для огляду, і він повільно підвищує частоту помилкових перевірок.
UNPARALLELED забезпечує тривале-старіння та статичне розміщення на гранітних заготовках для повного зняття внутрішньої напруги. Механічна обробка та притирка потім виконуються крок за кроком, із зарезервованими циклами стабілізації між кожною робочою процедурою. Остання фаза над-притирки починається лише після того, як підкладка досягає стабільного стану. Після притирки заготовка залишається статичною та повторно вимірюється в майстерні зі стабільною-температурою та ударостійкістю. Він перейде до заводської перевірки лише тоді, коли не буде підтверджено тенденцію відскоку до площинності. Цей процес гарантує, що готова еталонна площина залишається стабільною після притирки, і під час тривалої -операції AOI не відбувається відскоку від плоскості, забезпечуючи еталон безперервного огляду.
3. Метрологічна перевірка протягом робочого процесу притирки замість випадкового відбору проб готових деталей
Надійна площинність залежить від відповідних точних інструментів контролю. Багато переробних підприємств проводять лише прості вибіркові перевірки готової продукції з обмеженими точками вимірювання, не враховуючи локальні дефекти на робочих поверхнях. Бази-високого класу AOI вимагають повної-перевірки території, а метрологічну перевірку необхідно залучати на кожному етапі притирки.
Дотримуючись принципу, згідно з яким те, що неможливо виміряти, неможливо виготовити, UNPARALLELED використовує метрологічні інструменти-світового класу, зокрема лазерні інтерферометри, швейцарські електронні рівні WYLER і німецькі циферблатні індикатори Mahr для безперервного багато{1}}точкового сканування під час притирки для фіксації ледь помітних хвилястих поверхонь. Усі вимірювальні прилади мають дійсні сертифікати калібрування, а значення вимірювань можна відстежити в національних метрологічних інститутах. Площинність оцінюється відповідно до глобальних стандартів прецизійної метрології, таких як DIN, ASME та JIS. Замість того, щоб зосереджуватися лише на одно-точкових показаннях, загальний контур робочої поверхні оцінюється, щоб переконатися, що результати притирки задовольняють високо-точне координатне позиціонування обладнання преміум-класу для огляду.
4. Мікро-якість приклеєної поверхні, адаптованої для складання оптичних модулів
Основа AOI діє не тільки як опорна платформа, але й як спільний еталон для складання оптичних кронштейнів, ступенів лінійного двигуна та вузлів джерел світла. Мікро-подряпини, ямки та виступи частинок на базовій поверхні послаблюють кріплення модулів, створюючи нерівні монтажні зазори та опосередковано вводячи оптичні відхилення. Регулярне притирання має тенденцію залишати механічні текстури, які призводять до поганої підгонки компонентів після складання.
Над-точна притирка дає щільну поверхню з низькою шорсткістю та зменшує мікро-дефекти на поверхні. Граніт UNPARALLELED має щільну текстуру та низьку пористість. Після прецизійної притирки робоча поверхня не містить сипучих частинок. Оптичні вузли та ступені руху можуть щільно прилягати до базової площини під час складання. Рівномірна та стабільна контактна поверхня для складання забезпечує уніфіковані координати встановлення всієї системи зору, усуває додаткові помилки, спричинені складанням, і підтримує камери, етапи руху та випробовувані деталі в заданих відносних оптичних положеннях для підтримки високо-отримання зображень із високою точністю.
5. Повна{1}}площа притирки для великих-розмірів баз для задоволення вимог нового-покоління широкого{4}}формату AOI
Нове{0}}висококласне{1}}обладнання AOI має розширення ширини сканування. Контролювати повну-площинність великих-розмірних основ стає експоненціально складніше. Великі кам'яні заготовки мають тенденцію деформуватися з обох кінців або опускатися в середині під час притирки, що ускладнює досягнення рівномірної площини по всій панелі. Зрощені основи страждають від висоти сходинок на стиках, що безпосередньо руйнує оптичний орієнтир.
Завдяки великим над-прецизійним шліфувальним машинам і 20-метровій потужності обробки окремих-деталей UNPARALLELED реалізує інтегроване притирання великих монолітних гранітних основ і усуває контрольні дефекти, викликані зварюванням. Зміни контуру-на великій відстані відстежуються в режимі реального часу під час притирки, щоб контролювати прямолінійність і площинність довгих заготовок, забезпечуючи безперервні та стабільні орієнтири великих столів від одного кінця до іншого. Він підходить для-інспекції широкоформатних друкованих плат і упаковок напівпровідників і підтримує стабільні планарні контрольні показники під час сценаріїв сканування великого діапазону.
Висновок
Для-висококласного обладнання для огляду AOI вимоги до площинності виходять далеко за межі вимог до паперу. Потрібна безперервна-площина повної-довгострокової стабільної опорної площини з відмінною мікро-топографією. Завдяки прогресивному точному притиранню,-запобіжному зниженню напруги, повній-метрологічній перевірці процесу, високоякісній мікро-поверхні та інтегрованому притиранню для великих заготовок, НЕПРОВЕРЖНІ гранітні основи перетворюють технічні характеристики площинності у відчутну продуктивність. Вони задовольняють суворі вимоги до складання та зображення високоякісного{10}}обладнання для огляду та забезпечують надійні еталонні носії для першокласного AOI у промисловості напівпровідників і друкованих плат.